报告和文章以“全面”或者“汇总”为题的并不多见，一方面或许担心内容广泛和综合不如聚焦和具体更吸引关注，更多则是因为这需要大量的深入研究以及详尽的个案分析，力有不逮。粉体材料微结构与产品质量控制、成本控制、工艺优化息息相关，从粉体制备到应用的各个关键过程中，微结构表征都是必要的，而且发挥着越来越重要的作用。

例如：

X射线衍射是粉体检测时非常有力的工具，通常用于研究和分析粉体样品的结晶结构和相变行为。具体原理是X射线照射到加载的粉体样品上发生相互作用后形成衍射图案，通过探测器对图案记录和测量XRD图谱，对晶型和组成含量等信息进行定性和定量分析。除此以外，它能实现的功能其实非常多，有一些并不为人所熟知。

扫描电镜（SEM）和能谱分析(EDS）已经随着桌面电镜近年来的加速普及而逐步常态化，SEM图像可观察颗粒形貌，分析颗粒大小和分布；EDS则提供样品元素组成和相对含量的详细分析。但样品制备和检测环境往往会对检测结果造成较大影响，提高重现性和准确性是实验室操作人员工作中必须攻克的障碍。

透射电镜（TEM）以其高分辨和成像能力而主要用于纳米材料的观察分析，细节能力达到晶格结构、原子排列的水平。但是透射电镜使用门槛较高，不仅样品制备比较复杂，经常会用到离子薄层切割和磨蚀等技术和装备，并且往往需要进行导电处理；重要的是数据庞大，细节复杂，检测人员的专业知识和经验水平很可能会导致出现分析结论的主观性差异。

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粉体材料的复杂和多样性给从业人员带来诸多困扰，确实需要有概括和纲领性的文件来指点迷津。陈亮维博士从最初应用物理学习到之后的研发测试工作，再又回归到实验和理论教学，是少有的理论与实践结合，搞学术又接地气的“工业医生”，擅长解决研发生产及应用中的实际问题；更重要的是他不仅拥有强大专业能力并且愿意付出成倍时间精力，不仅为电子材料行业，更是为整个粉体工业做出了重要贡献。本次“2023全国粉体检测与表面修饰技术交流会（第七届）”上，他报告的主要内容包括：

1、介绍X射线衍射方法在粉体微结构表征中的应用（真实密度、孔隙率、合金化程度和固溶度、石墨化度……）；

2、扫描电镜及能谱元素分析在粉体形貌及元素分布表征中容易被人忽略的细节；3、透射电镜数据分析的难点（对衍射花样全面深入解读）；

4、探讨粉体材料微结构数据及物理参数，如比表面、粒度分布、熔点等等，与产品质量的相关性问题（导电银浆、电极材料、热敏电阻粉体等性能）。

报告人简介

陈亮维博士目前在昆明理工大学材料学院从事本科生实验教学、研究生和博士生的“材料晶体衍射结构表征”理论教学，主持过关键航空材料的失效分析及质量控制项目，某武器的失效分析及质量控制项目，承担了贵金属粉体制备及应用的技术攻关项目，多次获得国际晶体衍射组织（ICDD）颁发的杰出贡献奖，获得云南省学术带头人称号。

非常值得一提的是，他对材料晶体结构表征的某些科学质疑发表在军工期刊哈尔滨工业大学学报(英文版)上，将材料晶体结构表征的工作经验、科学推导和质疑编著成《材料晶体衍射结构表征》即将出版，为相关专业的学子、科研和工作人员提供更切实有效的启迪和帮助。

粉体检测与表面修饰交流会会务组

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