粒度测试中的一次粒径和二次粒径问题初探
2015年02月12日 发布
分类:粉体加工技术 点击量:23640
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使用粒度仪测试超细粉体过程中, 有一个不太好定性的问题,那就是一次粒径和二次粒径问题。对于多数粉体颗粒,它有一定的大小,广义角度看单个颗粒是一个个体。但是从严谨角度说它依然是个可再分的由更小颗粒组成的群体。这时候问题就产生了,我们对颗粒进行粒度分析时,到底是希望测试粉体被分散到什么程度时的粒度分布呢?举个例子:纳米硫酸钡和纳米碳酸钙粉体,电镜拍摄的照片显示,单晶颗粒都在几十或者几百纳米级别,但是激光粒度仪测试结果通常是微米级别的粒度分布,相差一个数量级。是激光粒度仪错了吗?其实不是。 纳米碳酸钙电镜图片 纳米材料的表面能极大,化学法生产的纳米硫酸钡和碳酸钙,只是在化学结晶过程中产生的晶体是纳米级的。由于硫酸钡和碳酸钙的纳米晶体表面能很大,这些晶体通常会几颗或者几十颗的团聚在一起,成为难以分散开的微米级颗粒。这类粉体,由于晶体颗粒已经达到纳米级别,虽然团聚体是微米级或者亚微米级的,但依然被称为纳米材料。超细碳酸钙国标GB/T 19690-2004中,提出了一次粒径和团聚指数的说法。规定碳酸钙结晶体粒径d(一次粒径)采用电镜测量或者XRD线宽化法测量。晶体团聚体的平均粒径D则规定使用激光粒度仪测量。团聚指数T=D/d。
(粉体圈 作者:敬之) 相关标签:
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