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颗粒粒度测量技术及应用(第二版)出版——“知行合一,学者本色”
2023年02月16日 发布 分类:行业要闻 点击量:626
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2023年2月,《颗粒粒度测量技术及应用》(第二版)正式出版,它不仅在前一版基础上补充了最新的研究成果,还对部分章节结构作了调整,并且补充修订了与颗粒测量相关的国际标准和国家标准目录等内容。其中,图像测量方法不再局限于对微米级以上颗粒的成像测量,也应用于纳米颗粒的粒度测试,这是颗粒测量方法、技术和仪器在十多年间取得发展进步的明证。笔者专门提及,也是因为曾亲历其中而深有感触。


《颗粒粒度测量技术及应用》(第一版 右,第二版 左)

引子

2010年某天,笔者还在国内某著名激光粒度仪企业工作时,无意中看到出差同事带回来的《颗粒粒度测量技术及应用》(第一版),它很快成为新入职员工培训教材之一。当时笔者没有想到,此后在粉体圈能有机会聆听本书主要作者蔡小舒教授分享的报告,而他和专业听众的互动答疑同样精彩和难忘。


在包括蔡小舒教授(左三)在内的多位业内学者、专家支持下,粉体圈专家委员会正式成立(2016年)

时隔十多年,世界发生了太多变化,于笔者而言,一直没变的大概是自己依然服务于粉体工业——从著名学者专家,到顶尖设备仪器,或多或少的信息接触和知识熏陶下,愚钝如我也能感受到颗粒测量技术的突飞猛进。

图像测量进步侧写

印象最深是在2016年珠海举办的首届全国粉体检测与评价技术应用交流会上,时任中国颗粒学会副理事长兼颗粒测试专业委员会副主任的蔡小舒教授提出:粉体检测仪器未来是朝着图像处理分析的趋势发展的观点。对于彼时的粒度测试技术而言,亟待解决的最大难题就在于不同大小颗粒拍摄的对焦。比如同时拍摄不同大小的物品,很难做到同样清晰。同理,样品粒径分布越宽,这个问题就越严重。所以当时基于图像法进行粒度粒形测试的装备的测试范围还远不能和基于衍射法进行粒度检测的普通粒度仪相比,尤其是到达亚微米级别会非常困难。


令人感动的是,次年召开的第二届全国粉体检测与评价技术应用交流会,蔡小舒教授便带来了“纳米颗粒的图像法测量原理与应用实践”的报告。提出问题并朝着解决问题前行,这样的知行合一学者风范令人敬仰!与此同时,不断涌现新的技术和仪器开始真正解决上述问题。


比如远心镜头,它可以在一定的物距范围内,使得到的图像放大倍率不会变化,这对被测物不在同一物面上的情况是非常重要的应用;比如液体变焦镜头,它通过改变液体透镜的形状或折射率来实现焦距的调节,可以简单理解为同时高清拍摄大小迥异的颗粒……

就笔者所知,蔡小舒教授还在多个国内和国际粉体检测技术会议上还做过“在线粉体粒度测试技术的发展与应用”、“纳米粉体新型测量技术”等等业内最前沿也最关心的科研报告,不仅引领国内粒度检测行业的战略发展方向,也给关心特定粒径范围微粉制备如金刚石等行业带来切实帮助。

关于作者


上海理工大学颗粒与两相流测量研究所所长蔡小舒教授及课题组成员长期从事颗粒粒度测量方面的研究和教学工作,先后得到国家自然科学基金重点项目和面上项目、国家 863计划项目、国家 973计划项目、上海市“科技创新行动计划”纳米科技项目等多个项目的支持,开展光散射理论、基于光散射原理的多种颗粒测量方法、基于超声的多种颗粒测量方法、纳米颗粒测量方法、图像法、颗粒在线测量等方面的研究,在颗粒测量基础理论和测量方法及技术方面取得多项成果。

关于本书(第二版)


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内容简介

第二版图书分为四部分。第一部分介绍了颗粒粒度的基本知识;第二部分系统介绍了光散射理论、超声散射理论和图像处理理论等,以及基于上述理论发展的各种颗粒测量技术,其粒度测量范围覆盖了在科学研究及各领域和行业应用涉及的从纳米到毫米粒度范围;第三部分介绍了颗粒粒度测量仪器和应用,并引入其它颗粒测量技术作为补充;第四部分为作者多年来收集的大量物质的折射率和其它物性参数,以及国际和国内有关颗粒测量的标准等资料。

本书适合从事颗粒科学研究与应用的科研人员和工程技术人员参考,也可作为高等学校相关学科教师和研究生的教材或参考书。

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