精细氧化铝用途广泛，也称为“多品种氧化铝”，是耐火、涂层、磨料等众多行业的关键原料，尤其对技术陶瓷和磨料而言，粉体参数几乎决定了产品质量和应用性能，后续工艺几乎无法弥补粉体先天不足所导致的问题。而粒度/粒形这两大核心参数，也是研发、实验室工作中最多最常见的检测项目，自然也就遇到各式各样原因各异的问题。熟练掌握粒度/粒形检测方法，在理论高度理解和规避干扰，也已经成为考核检测人员业务水平的重要标准。

纳米粒度及zeta电位测定仪——基于动态光散射和电泳光散射原理，用于测量纳米颗粒粒径分布及其Zeta电位（颗粒表面净电荷的度量，反映胶体体系的稳定性），广泛用于纳米或亚微米原料（如CMP抛光、透明陶瓷）测试；动态图像粒形分析仪——通过高速相机拍摄流动颗粒的实时图像，软件对每个颗粒的等效圆直径、长径比、圆形度等参数进行统计，在需要严格控制“最大颗粒”（D100）的行业（如磨料）不可或缺……

检测仪器种类众多，不同仪器和不同测试项目的影响因素也有差异，比如：粒度仪测试影响因素有背景（尤其影响小颗粒检测）、遮光率（浓度低信号弱，浓度高则易导致多重散射）、折射率（计算模型设置误差）、介质（影响粒子布朗运动，导致动态光散射失效）、分散能量（低则无法打开团聚，高则造成颗粒破碎）等；图像仪测试额外对采样量和代表性提出要求；Zeta电位测定额外关注pH值、电导率、电极污染等……

精准和高效的粒度/粒形分析为研磨抛光的工艺设计提供参考，也是作业效果的强力保障；还为技术陶瓷生产商开发满足客户要求的高性能产品至关重要。定于4月19-21日于山东淄博举办的“2026年全国氧化铝粉体与制品创新发展论坛（第十届）”上，丹东百特仪器有限公司销售经理任旭将以题为“氧化铝粉体粒度/粒形检测方法及影响因素”的报告，与精细氧化铝实验室人员进行粉体检测技术的理论和实践分享，高效解决大家在粉体检测中的常见难点、痛点问题。

报告人简介

任旭，毕业于沈阳工业大学，现任丹东百特仪器有限公司销售经理，长期深耕粒度仪的测试技术研究和销售工作，具有扎实的理论背景，同时又具有多年的颗粒表征实践经验，对于粒度检测方法的研究具有较为深刻的理解。

淄博氧化铝论坛