日前,真理光学在其不久前推出纳米粒度仪的基础上增加了胶体颗粒的Zeta电位测量功能,推出了纳米粒度及Zeta电位仪新品。
Nanolink S900/ SZ900纳米粒度及Zeta电位仪
随着国内粉体工业的迅速发展,对于颗粒物性参数的理解和应用也就越多。而Zeta电位测量应用广泛,是表征胶体分散系稳定性的重要指标,以制药为例,其对乳剂、混悬剂及脂质体等配方研究必须测量Zeta电位。真理光学此次推出新品,对于关注和需要颗粒表征的领域来说,意味着有了更多选择;对于真理光学来说,则不仅仅是推出一款新仪器新产品,更意味着产品线的进一步完善,当然也是企业发展进入全新阶段的开始。
笔者在粒度仪行业有工作经验,以上认识正基于此。2010年前后,纳米粒度分析系统依然处在国产仪器的真空区;就在不到两年前,基于动态光散射技术和电泳法的国产纳米粒度和zeta电位测量系统才突破国外技术壁垒。中国粉体工业的整体进步,很大程度上要归功于国产激光粒度仪研发生产商的不断进取。
以下是Nanolink S900/ SZ900纳米粒度及Zeta电位仪 的详细介绍及参数特点:
Nanolink S900是基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度分析系统,被广泛应用于有机及无机颗粒、乳液、高分子聚合物、表面活性剂、胶素、病毒抗体、蛋白质等样品的颗粒表征。SZ900在S900纳米粒度测量功能的基础上,增加了胶体颗粒的Zeta电位测量功能。
项目 | 性能指标或描述(右上角标“*”者仅适用于SZ900) |
测量原理 | 动态光散射法、电泳法* |
粒径范围 | 0.6nm-10μm |
准确度 | 优于±1% (平均粒径,NIST 可溯源乳胶标样) |
重复性 | 优于±1% (平均粒径,NIST 可溯源乳胶标样) |
最小样品浓度 | 0.1mg/ml |
最小样品量 | 20μl |
测量角度 | 经典90度 |
温度控制范围 | 0℃-90℃ (120℃选配) |
温度控制精度 | ±0.1℃ |
冷凝控制 | 干燥气体吹扫 |
激光器 | 532nm固体激光器,最大功率50mW, 激光输出自动可调 |
激光安全等级 | 1类 |
相关器 | 最小采样时间25ns, 动态范围>1011 |
检测器 | 高灵敏度极低暗电流PMT (APD可选) |
Zeta电位测量范围* | -600mW |
样品最大电导率* | 200mS/cm |
适用粒径范围* | 3.5nm |
光学系统重量 | 25kg |
光学系统尺寸 | 578mm x 397mm x 248mm(LxWxH) |
注:* 取决于样品
Nanolink S900纳米粒度分析仪技术特点包括:
◆ 经典90°动态光散射技术
◆ 粒径范围:0.6nm-10μm
◆ 新一代高速数字相关器,最小采样时间25ns,动态范围大于10¹¹
◆ 集成光纤技术的军品级PMT检测单元(APD可选)
◆ 532nm 50mW大功率固体激光器,能量输出自动调节
◆ 温控范围0℃-90℃,精度±0.1℃
◆ 冷凝控制-- 干燥气体吹扫技术
粉体圈 整理
供应信息
采购需求