张福根博士:关于检测结果不一致等激光粒度仪相关疑问的解答

发布时间 | 2024-10-29 15:13 分类 | 行业要闻 点击量 | 807
粒度仪 真理光学
导读:揭秘激光粒度仪未来发展~

粒度测试和表征是粉体工业上下游最关切的检测项目之一,它是优化生产过程和进行质量控制的好帮手,输出的粒度报告则往往是决定生产端和应用端能否达成合作的重要依据。激光粒度仪测量快、范围广、操作简便,还有分辨率和重复性好等优点,但也存在受各种环境和自身因素影响导致的准确性等问题,就比如不同仪器品牌甚至相同品牌不同型号仪器的测试结果偏差问题。

张福根博士是中国颗粒学会原副理事长、中国颗粒学会荣誉理事、全国颗粒表征标准化技术委员会副主任委员、天津大学兼职教授,我国研究激光粒度仪的专家学者,国产激光粒度仪商业化的先行者,如今也是真理光学的董事长和首席科学家。粉体圈小编来到珠海真理光学仪器有限公司参观学习,非常有幸邀请到张福根博士为广大用户讲解一些关于激光粒度仪应用的常见问题。

Q1:张博士,您好!针对亚微米粉体的测试,我们知道可以使用纳米粒度仪和激光粒度仪,您认为两者是属于一个什么样的关系,是互补还是可以替代呢?

A1:实际上,针对亚微米颗粒的测量,这两种仪器的难点并不在于是替代还是互补。我们通常认为0.1微米以上至1,000微米以下的是亚微米,那在这个范围内,质量好一点的激光粒度仪或纳米粒度仪都能很好的完成测量任务。就这两种仪器而言,真正有难度的地方在于对宽分布样品的测量。比如,有一种样品,它是从0.1微米一直分布到1,000微米。那在面对宽分布样品的测量时,这两种仪器目前都测得不好。如果对稍微粗一点的样品进行测量,比如说0.3微米以上的样品,那么激光粒度仪就比纳米粒度仪更便于使用。我们这里说的纳米粒度仪是以动态光散射为工作原理的,它不管样品粒径小或大,还是宽分布的,测量的结果均不理想。如果用户提供的样品颗粒比较粗,在0.1微米以上,那么就不需要使用纳米粒度仪,用衍射法仪器就可以完成测量。但是如果样品非常小,比如说100纳米以下,那么只能用动态光散射仪器。虽然有的厂家就号称,他的测量下限能测到10个纳米,但负责任地说这是假的。

Q2:目前在一些应用领域,许多激光粒度仪的客户可能会选择国外的一些品牌,那针对这一现象,您认为有什么样的一个破局的方法,如何才能有效提升我们国家在这方面的市场占有率呢?

A2:首先,我觉得我们还是要尽力把我们的国产激光粒度仪做好。在我看来,国内目前比较顶尖的几家激光粒度仪,在质量上跟国外的仪器相比是不差的,甚至在某些指标上,我们做的比国外的还要好。但是由于客户的使用习惯或长期以来已经形成国外的产品就是好产品的观念,面对这种情况,我们就需要慢慢的让客户改变,在做好产品的情况下,客户使用了我们的仪器,觉得用的也不差,那么自然会慢慢的多用国内的激光仪。

Q3:您认为当前激光粒度仪行业应用的难题有哪些呢?

A3:我觉得现在应用问题对激光粒度仪来说是最大的难题,因为不同品牌的激光粒度仪或是同一家品牌不同型号的激光粒度仪之间测量结果会存在不一致的情况。

Q4:您认为未来激光粒度仪产品的发展方向大概是什么样的呢?

A4:首先,我觉得截至目前激光粒度仪这个产品是不成熟的,尽管它现在在工业、科学研究领域是一个很主流仪器,使用的非常的广泛,但是不同品牌的仪器,甚至同一种品牌不同型号的仪器测量结果会不一致。出现这一现象的本质原因,就是激光粒度仪本身技术不完善。我这里举一个大家都觉得很有名的、认为是权威的,国外某品牌仪器的例子来说明这问题。这个品牌的仪器在粒度分析结果上有两种不同的分析模式,针对相同的样品或相同的原始测量数据,如果用不同的分析模式去测量,会得出不同的结果。比如,使用单峰模式只能得到单峰的结果,哪怕你的样品是多峰的,它得到也只会是个单峰的结果。但是厂家会告诉用户,我的单峰模式只是测量单分散的标准样,如果需要测普通的样品,就需要使用通用模式。那反过来,如果我使用通用模式测得的标准样品,测出来的结果几乎全部是错的,错的最多的地方,就是使用它通用模式测出来的粒度分布的宽度,比实际的宽度要宽。单分散的标样实际上没那么宽,更严重的是,比如说3微米的标样或0.4微米的标样,明明是一个单分散的样品,它如果用通用模式测出来的就是双峰的,它变成两个峰的,完全不符合实际。那这样客户就会问你一个问题,使用你的多峰模式测标准样都测的不对,你用什么来证明,测普通样品的结果是对的?那他是没办法回答这个问题。反过来,也就说明这个仪器不完善,它是自相矛盾的。那么既然连这么有名的品牌,他产品都是不完善的,更何况其他品牌呢?我们真理光学在这方面是做了很深入的研究的,我们知道出现这些不一致的原因是什么,那么就希望整个行业大家都一起努力,把这仪器做好。

视频版采访

谢谢张福根博士本次精彩讲解,告诉意犹未尽的朋友们一个好消息,他还将作为报告嘉宾出席粉体圈于12月26-28日举办的全国粉体检测与表面修饰技术交流会,届时张博士将在会上为我们大家作更多的分享,敬请期待!


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作者:粉体圈

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