随着超细粉体材料普及应用，粉体研发和生产人员对粉体的认识也不断提升，看似昂贵的电镜作为一种比较直观的检测设备也开始被广泛的应用，电镜图片也随处可见。那么如何分析这些检测结果，电镜对粉体工业的发展有哪些指导意义呢？
扫描电镜SEM可以观察物体的表面形貌,也可用于做成分的定性和半定量分析；透射电镜TEM可用于观察内部显微结构，而且TEM的倍数要比SEM大得多，TEM很多用于观察纳米级别的试样。当然，电镜专业的使用者一定会清晰地认识这些电镜的基本功能，以及电镜的操作规范。
平均粒径5微米的碳化硅微粉SEM照片
然而，对于很多粉体生产厂家而言，往往只是拿到了在科研机构出具的电镜报告，具体如何解读，还需要自己来完成，那么学习电镜的基础知识就显得非常必要。
2016年12月8日，从“颗粒表征”到“粉体表征”2016珠海论坛(即：2016年全国粉体检测与评价技术应用交流会)，将邀请北方民族大学江涌教授给大家分享电镜的知识，并以碳化硅粉体为实例做案例分析。
电镜下的球形玻璃微珠
江涌教授简介：
北方民族大学教授，研究生导师，西北四省电子显微学会常务理事兼副理事长。研究方向：特种陶瓷及显微结构表征。主持国家自然科学基金、省部级自然科学基金课题。曾参与国家863、国家自然基金、国际合作项目等多项课题研究。发表论文30余篇，其中SCI、EI检索近10篇。
粉体圈 作者：沐恩
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