大塚电子实战经验:氧化铝粉末制品研发和品控中的粒径·ζ电位测定

发布时间 | 2024-04-07 13:56 分类 | 行业要闻 点击量 | 127
论坛 粒度仪 氧化铝
导读:即将于4月23-25日在宁波举办的“2024年全国氧化铝粉体与制品创新发展论坛(第八届)​”上,上海敦祥工贸有限公司作为本次会议赞助商及大塚电子的代理商,邀请了大塚电子(苏州)有限公司的技术统括...

作为最常见的氧化物材料之一,氧化铝具备多种优良性能,包括良好的机械性能、热性能、结构多样性等,使其在陶瓷、耐火材料、研磨抛光、导热填料等诸多领域中有着不错的应用性和前景。不过在实际的工业生产中,即使同为氧化铝粉体,不同的生产厂家、不同的生产工艺及不同的生产设备所生产出的产品,其物理、化学性能指标也不尽相同,甚至会有较大差别。


氧化铝应用

以氧化铝陶瓷制品的生产为例,制备高分散性、高稳定性和高固含量的超细氧化铝粉体浆料关乎着产品的加工性能甚至是使用性能,是获得高质量坯体的关键,而氧化铝粉体的粒度大小、分布以及分散稳定性又会对浆料的质量产生较大影响。若氧化铝粉体的粒径越小,则表面积与表面能则较高,能够为陶瓷的致密化提供更大的驱动力,从而提高成品的致密度;但在另一方面,粉体的粒径越小,粉体颗粒在溶剂中的分散稳定性就越差,越容易发生团聚或沉降,往往需要采用更多的分散剂、粘结剂等添加剂包覆在颗粒表面,不仅会使浆料流动性变差,影响后续排胶过程,还会导致陶瓷烧结收缩率增加,烧结体密度减小。由此可见,在氧化铝粉末制品研发中,对氧化铝粉末的粒径及其分布和在液体中的分散稳定性(Zeta电位)等重要指标做出正确表征,并把握二者平衡至关重要。

为更好地指导粉体研发人员进行精确的颗粒检测,提高产品性能和质量管理,大塚电子(苏州)有限公司推出的ELSENEO系列ZETA电位·粒径测试系统采用了目前学术界和产业界公认的成熟可靠的粒度检测技术——动态光散射(DLS)技术,并使用高灵敏度的 APD雪崩光电二极管,通过观测散射光随时间的波动性得到颗粒布朗运动的速度,能够连续、精确地从稀薄到浓厚溶液(~40% )获得颗粒的粒度和粒度分布,可测粒度范围广至0.1 ~ 10,000nm


ZETA电位·粒径测试系统·ELSENEOSE


动态光散射法技术原理

而通过采用电泳光散射法,并结合电渗透测量和绘图分析,ELSENEO系列不仅能够将颗粒的电泳速度测量问题转化为散射光频移测量问题,精确测定溶液的Zeta电位,用于粉体的分散稳定性的表征,还可以用于确认测量数据内ZETA电位分布的再现性及判定杂质的波峰,在测量速度、统计精度和重现性方面都具有突出优势。

电泳光散射法测定原理


充分考虑电渗流后进行样品池内泳动速度的解析


电渗透流应用于多成分(杂质)解析

即将于4月23-25日在宁波举办的“2024年全国氧化铝粉体与制品创新发展论坛(第八届)”上,上海敦祥工贸有限公司作为本次会议赞助商及大塚电子的代理商,邀请了大塚电子(苏州)有限公司的技术统括桥田绅乃介先生现场分享报告《氧化铝粉末制品研发和品控中的粒径·ζ电位测定》,届时他将结合详细的事例深入介绍并在展台展出ELSENEO系列ZETA电位·粒径测试系统。如您对该报告及技术感兴趣,了解会议详情并报名,到会议现场及展台与大塚电子进行面对面交流吧!

报告人介绍


桥田绅乃介,硕士毕业于日本兵库县立大学研究生院研究分析化学专业。2010年开始在大塚电子株式会社测量分析设备开发部门从事基于激光的纳米粒子评价设备的分析业务和应用实例制作业务。负责编写介绍动态光散射法和电泳光散射法测定原理和应用实例的技术书籍,每年举办技术研讨会。

关于大塚电子


作为世界500强企业之一的大冢集团,其旗下日本大塚电子集团的子公司大塚电子(苏州)有限公司以“多样性”、“创新性”和“全球化”作为基本方针,并融合了自公司成立以来积累的核心技术,为用于光学特性测试的测量仪器、分析仪器提供从销售到售后的全面服务支持,包括偏光片测试仪、位相差测试仪、液晶Cellgap测试仪、ColorFilter色度机、膜厚测试仪、透过率测试仪、反射率测试仪、纳米粒度仪等,可以满足纳米技术、高分子化学、新材料、食品、半导体和医药等诸多领域从研发到质量管理各方面的需求,拥有精度高、测试快、操作简便、市场占有率高、客户群体广的特点及优势。

 

宁波氧化铝论坛会务组

作者:粉体圈

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