随着MLCC（多层陶瓷电容器）向小型化、高容量、高层叠方向发展，内部介质层不断减薄，对陶瓷粉体和金属电极粉体的粒径控制提出了更高要求。在企业走访中，粉体圈了解到部分高端MLCC产品的层叠数量已达到1500层。随着结构不断精细化，镍粉与钛酸钡（BT）陶瓷粉的粒径控制尤为关键：高端镍粉粒径要求可低于200 nm，BT粉及部分添加剂则已下探至40-100 nm。

对这类纳米级粉体，不仅要控制平均粒径，还要关注颗粒分布是否均匀、是否存在异常大颗粒，避免局部缺陷的增加、短路风险和烧结后应力集中的可能性。因此，具备足够分辨能力，能够识别粒度分布中的细微差异，并对浆料状态变化作出灵敏响应的检测技术，正成为高端MLCC材料研发和生产中重要工具。

从粒径均值到分布细节，检测技术面临哪些挑战？

目前，动态光散射法（DLS）常用于纳米颗粒粒径分析，但其测量结果容易受到颗粒团聚及大颗粒散射贡献的影响；扫描电子显微镜（SEM）则可直接观察颗粒形貌，并通过图像分析统计粒径，但结果会受到取样代表性、图像处理及统计颗粒数量等因素影响。

相比之下，基于电感应区技术的纳米库尔特粒度仪采用单颗粒级测量方式，可从颗粒统计的角度提供不同维度的数据。根据瑞芯智造的技术介绍，RPS测得的粒径均值与SEM结果具有较好的一致性，同时具备较高的数据分辨率，并能够灵敏反映大颗粒变化。

MLCC纳米BaTiO₃浆料粒度分析

对于MLCC用BT浆料而言，这类技术不仅可用于粉体粒径分布表征，还可进一步用于研究浆料的分散性与存储稳定性，为识别团聚、监测浆料状态变化提供数据支持。

在即将于11月3-4日举办的“2026年MLCC关键粉体/浆料制备创新发展论坛”上，来自瑞芯智造（深圳）科技有限公司材料技术总监麻小挺博士将在题为《纳米库尔特粒度仪及其在MLCC粉体表征中的应用》报告中，系统介绍纳米库尔特粒度仪的测量原理、结构组成、技术优势及关键参数。

欢迎MLCC产业链上下游企业、陶瓷粉体及电子材料企业、科研院所等参会，了解纳米颗粒精细表征技术及其在MLCC材料研发与生产中的应用。

关于报告人

瑞芯智造（深圳）科技有限公司总经理助理/材料技术总监, 香港大学博士，纳米材料领域专家，拥有十年以上材料基础研究、产业化及管理经验，在Advanced Materials、Advanced Functional Materials、Nano Energy和Small 等国际顶级期刊发表多篇 SCI 论文10余篇，并已申请及授权发明专利超过十项。

东莞MLCC论坛