依靠酸性条件下Ce⁴⁺强氧化性 (1.61 V),将金属氧化为可溶性离子,Ce⁴⁺还原为 Ce³⁺;最主流是铬膜蚀刻,用于光刻掩膜版、TFT‑LCD/OLED 制程。
铬层蚀刻主反应:
\(\ce{3Ce^{4+} + Cr → Cr^{3+} + 3Ce^{3+}}\) 铬被氧化成可溶性三价铬盐溶解,石英 / 玻璃、光刻胶、SiO₂、Si₃N₄几乎不被腐蚀,选择性优异。

石英基板上金属铬遮光层图形化,半导体光刻掩膜、TFT 显示掩膜版。
特点:侧蚀极小(undercut<0.1 μm),边缘陡直,垂直度≥85°,适合亚微米‑微米级精细图形;可返工,旧掩膜版除铬翻新。
参考量产配方(1L): 硝酸铈铵(电子高纯)150‑200 g + 70% 高氯酸100‑120 mL + 超纯水补至 1 L;pH<1,橙红色透明,需 0.2 μm 过滤。
工艺参数:温度25‑35 ℃(恒温 ±0.5℃);蚀刻速率50‑150 nm/min;130 nm 铬膜蚀刻时间 45‑55 s;浸泡 / 轻微鼓泡,避免强喷淋增大侧蚀。
后处理:大量超纯水冲洗→脱水→无尘烘干。
高氯酸作用:稳定 Ce⁴⁺,抑制 Ce⁴⁺水解沉淀,提升蚀刻均匀性;也可用稀硝酸替代,但稳定性略差。
高端 HDI 板,线宽≤50 μm 精细铜线路,替代三氯化铁。
参考配方:CAN 200‑500 g/L,68% 硝酸 50‑100 g/L,去离子水;pH 1‑3;25‑40 ℃;蚀刻速率 10‑20 μm/min。
优势:线路毛刺少,基材环氧板不受腐蚀,废液中铈可以回收再生。
铬合金、钼铬复合膜图形化;
不适合 ITO 主蚀刻:对 ITO 蚀刻速率慢,工业 ITO 一般用盐酸‑硝酸体系;CAN 极少用于 ITO 量产蚀刻。