CeF₃属于软质稀土氟化物磨料,莫氏硬度约 4‑5,远低于氧化铈(~7)、氧化铝(~9)。抛光中颗粒容易微破碎,切削柔和,主打无亚表面损伤、低划痕、超光滑镜面,用于硬脆特种陶瓷的最终精抛(终抛工序,不是粗抛 / 中抛)。

氮化硅 Si₃N₄陶瓷:轴承、高温结构件、氮化硅基板;要求极低亚表面裂纹,不能用金刚石做终抛。
碳化硅 SiC 陶瓷(烧结 / 反应烧结):光学 SiC 反射镜、散热基板;金刚石粗抛后,CeF₃做终抛去除金刚石划痕与损伤层。
氧化锆 ZrO₂(TZP/Y‑SZ):精密结构件、医疗陶瓷、光学氧化锆窗口。
氧化铝高纯 Al₂O₃透明陶瓷、AlN 氮化铝基板,红外透明陶瓷。
定位:粗抛用金刚石;中抛用细金刚石 / 氧化铝;终抛镜面用氟化铈,只做最后一道超精密抛光,材料去除速率偏低,追求表面质量优先,不追求快切量。
微破碎软切削:CeF₃颗粒硬度低于陶瓷基体,受压后颗粒自身先碎裂,不会对陶瓷产生压入式切削,大幅抑制微裂纹、亚表面损伤,是核心优势。
表面化学改性:抛光界面微量 F 与陶瓷表面发生弱化学作用,生成薄层易水化改性层,辅助原子级材料剥离;不会强腐蚀基体。
区别氧化铈:CeO₂对硅酸盐玻璃化学活性很强,但对共价键陶瓷(SiC、Si₃N₄)化学作用弱,又硬度偏高,容易产生细微划痕;CeF₃更适合共价键硬脆陶瓷终抛。