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概述CAS号:189619-69-0分子式:Cs0.33WO3英文别名:cesiumtungstate,Cesiumtungstenoxide(Cs0.33WO3);Cesiumtungstate;Dicesiumtungstentetraoxide;dicesium;o...
- 分类:纳米材料
- 产地:江苏
- 苏州优锆纳米材料有限公司
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概述CAS号:189619-69-0分子式:Cs0.33WO3英文别名:cesiumtungstate,Cesiumtungstenoxide(Cs0.33WO3);Cesiumtungstate;Dicesiumtungstentetraoxide;dicesium;o...
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产品介绍:该系列均是由天然材料通过纳米技术制成。科学研究表明,负离子粉对人体保持精力充沛以及对人类居住环境的改善有很大的帮助作用。产品特点:该系列产品...
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产品介绍:该系列均是由天然材料通过纳米技术制成。科学研究表明,负离子粉对人体保持精力充沛以及对人类居住环境的改善有很大的帮助作用。产品特点:该系列产品...
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产品介绍:该系列均是由天然材料通过纳米技术制成。科学研究表明,负离子粉对人体保持精力充沛以及对人类居住环境的改善有很大的帮助作用。产品特点:该系列产品...
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产品介绍:该系列均是由天然材料通过纳米技术制成。科学研究表明,负离子粉对人体保持精力充沛以及对人类居住环境的改善有很大的帮助作用。产品特点:该系列产品...
- 分类:纳米材料
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UG-S20;UG-S50纯度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X—衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分布的测定X射线小角度散射法;GB/T...
- 分类:纳米材料
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UG-S20;UG-S50纯度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X—衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分布的测定X射线小角度散射法;GB/T...
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UG-S20;UG-S50纯度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X—衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分布的测定X射线小角度散射法;GB/T...
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UG-S20;UG-S50纯度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X—衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分布的测定X射线小角度散射法;GB/T...
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