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ParticleX 全自动颗粒分析系统

ParticleX 主要用于杂质或颗粒物的综合评估,可以自动获取大量颗粒的微观形貌 和成分信息,具体包括:


• 颗粒粒度分布
• 颗粒形貌分析
• 杂质成分检测
• 高分辨率成像(10 nm 分辨率)


ParticleX 以扫描电镜和能谱仪为基础,结合自动控制系统以及强大的数据库系 统,可以全自动对杂质颗粒进行快速识别、分析和分类统计,为客户的研发以及生 产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。


Phenom XL.jpg


产品参数


光学显微镜:放大 3-16 倍

电子显微镜:100,000 倍

探测器:高灵敏度四分割背散射电子探测器

灯丝材料:1,500 小时 CeB6 灯丝

分辨率:优于 10 nm

放置环境:采用专业防震设计,可摆放于普通实验室或办公室、厂房

加速电压:5kV-20kV 连续可调

抽真空时间:小于 30 秒

能谱仪:可选配能谱仪


复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-China),负责 荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售,提供专业的技术支持和测试服务,飞纳中国拥有专业的服务团队,提供优化的解决方案;飞纳中国提出飞纳学校 (Phenom University)的概念,为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训,在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心,目前飞纳在中国已经拥有接近 1000 名用户。



 联系方式
单位名称: 复纳科学仪器(上海)有限公司
联系人: 查迪
联系电话: 18516656178
传真:
地址: 上海市闵行区申滨路88号丽宝广场T5,705室
E-mail: info@phenom-china.com
网址: www.phenom-china.com
备注:
 

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