日前，真理光学在其不久前推出纳米粒度仪的基础上增加了胶体颗粒的Zeta电位测量功能，推出了纳米粒度及Zeta电位仪新品。

Nanolink S900/ SZ900纳米粒度及Zeta电位仪

随着国内粉体工业的迅速发展，对于颗粒物性参数的理解和应用也就越多。而Zeta电位测量应用广泛，是表征胶体分散系稳定性的重要指标，以制药为例，其对乳剂、混悬剂及脂质体等配方研究必须测量Zeta电位。真理光学此次推出新品，对于关注和需要颗粒表征的领域来说，意味着有了更多选择；对于真理光学来说，则不仅仅是推出一款新仪器新产品，更意味着产品线的进一步完善，当然也是企业发展进入全新阶段的开始。

笔者在粒度仪行业有工作经验，以上认识正基于此。2010年前后，纳米粒度分析系统依然处在国产仪器的真空区；就在不到两年前，基于动态光散射技术和电泳法的国产纳米粒度和zeta电位测量系统才突破国外技术壁垒。中国粉体工业的整体进步，很大程度上要归功于国产激光粒度仪研发生产商的不断进取。

以下是Nanolink S900/ SZ900纳米粒度及Zeta电位仪 的详细介绍及参数特点：

Nanolink S900是基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度分析系统，被广泛应用于有机及无机颗粒、乳液、高分子聚合物、表面活性剂、胶素、病毒抗体、蛋白质等样品的颗粒表征。SZ900在S900纳米粒度测量功能的基础上，增加了胶体颗粒的Zeta电位测量功能。

注：* 取决于样品

Nanolink S900纳米粒度分析仪技术特点包括:

◆ 经典90°动态光散射技术

◆ 粒径范围：0.6nm-10μm

◆ 新一代高速数字相关器，最小采样时间25ns，动态范围大于10¹¹

◆ 集成光纤技术的军品级PMT检测单元（APD可选）

◆ 532nm 50mW大功率固体激光器，能量输出自动调节

◆ 温控范围0℃-90℃，精度±0.1℃

◆ 冷凝控制-- 干燥气体吹扫技术

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