对象:石英基板上金属 Cr 遮光层,半导体光刻掩膜版、TFT‑LCD 光罩
原理:\(\ce{Cr + 3Ce^{4+} = Cr^{3+} + 3Ce^{3+}}\)
优势:只蚀铬,不腐蚀石英、光刻胶、SiO₂;侧蚀小,边缘垂直度≥85°,线宽精度 ±0.1 μm;无氯离子,无氯残留腐蚀风险
典型工作液:CAN 10‑20 wt%,高氯酸体系,温度 25‑35 ℃,蚀刻速率 50‑150 nm/min,0.2 μm 精密过滤去除颗粒。

1)ITO 导电膜图案化蚀刻氧化溶解 ITO,像素电极图形化;蚀刻均匀,不易产生断线、针孔缺陷。 2)金属栅极 / 源漏层辅助蚀刻 用于 Mo/Al/Nb 多层金属体系,CAN 作为氧化助剂,打破金属表面钝化膜,调控多层金属蚀刻速率匹配,提升面板良率。
精细铜线路微蚀;替代三氯化铁体系,无氯离子残留;适合超薄铜箔、细线路板;缺点成本高于传统蚀刻液,多用于高端 PCB 样板 / 小批量制程。
去除晶圆表面有机残留、金属浮渣;剥离薄金属氧化层;不损伤硅基底、氮化硅、氧化硅介质层。
硝酸铈铵 CAS:16774-21-3 分子式:CeH4N7O18-