侧蚀极低:侧蚀量可控制在 50nm 以内,线条边缘垂直锐利,无钻蚀、毛刺,满足微米 / 亚微米级精细图形要求。
尺寸精度稳定:图形偏差≤0.1μm,适配半导体、高端显示的高精度光刻掩模制程。
选择性极强:仅腐蚀铬膜及铬合金层,不损伤石英 / 玻璃基板、光刻胶、抗反射层,基板可反复返工使用。
不腐蚀周边介质膜、镀层,不会造成掩模基材变形、表面发雾。
蚀刻均匀性佳:整片 6/8/12 英寸大尺寸掩模版蚀刻速率差异<3%,整片图形一致性高。
工艺条件温和:常温(25~35℃)作业,无需高温强压,设备负荷低,也不会导致光刻胶形变、脱落。
速率可控:蚀刻速度 50~150nm/min 可调,易通过时间、浓度精准管控膜层去除厚度。
胶层兼容性好:正胶、负胶均可匹配,不溶胀、不破坏光刻胶图形。
表面状态优异:蚀刻后铬层断面光滑,无针孔、斑点、发黑、雾面等缺陷,掩模透光 / 遮光性能达标。
批次稳定性强,长期生产良率可达 99.5% 以上。
无氯离子体系:区别于盐酸类蚀刻液,不会产生氯系副产物,无基材点蚀、金属腐蚀隐患。
废液可循环再生:蚀刻后生成的三价铈可通过电解、氧化剂再生为四价铈,药液重复利用,降低综合成本。
组分简单,废液处理流程简便,符合 RoHS 等环保规范。
适用场景广:覆盖半导体光刻掩模、LCD/OLED 铬电极、触控掩模、制版铬版、旧掩模返工除铬等全场景。
药液使用寿命长,不易快速失效,换液频次低。