光掩模铬层蚀刻(半导体 / 面板)配方:5%–10% CAN + 1%–3% HNO₃(pH 1–2)效果:蚀刻速率50–200 nm/min,线宽精度 **±0.1 μm**,边缘垂直度 **>85°**,无侧蚀、无钻蚀。
ITO 电极蚀刻(LCD/OLED)精准图案化,像素边缘清晰,无残留,保障显示分辨率。
钛 / 铬金属薄膜蚀刻(精密光学元件)去除多余金属膜,不损伤光学涂层,适用于滤光片、反射镜制造。
酸度:pH 1–2(硝酸体系),防止 Ce⁴⁺水解沉淀
浓度:5%–10%,浓度↑→速率↑,过高易过腐蚀
温度:25–35℃,恒温控制,避免边缘发黑
后处理:蚀刻后立即纯水冲洗→稀酸漂洗→超纯水冲洗→烘干,防止返黑与残留。
原子级精度:Ra≤0.1 nm,无划痕,远超 Al₂O₃、SiO₂磨料。
高效低损伤:去除速率提升20%–300%,缺陷密度降低 70%。
高纯度无残留:热分解仅产生气体(NH₃、NO₂、H₂O),无杂质污染,适配半导体 / 光学级要求。
高选择性:对 Cr、ITO 蚀刻快,不腐蚀光刻胶、SiO₂、玻璃,对金 / 铂基本不蚀。
高精度低侧蚀:边缘垂直,线宽可控至0.1 μm,适合纳米级图形化。
环保易控:无氰、无重金属废液,反应温和,速率稳定易调。