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通过新技术提升粒度仪对边界粒径(粗、细颗粒)测试准确性
2015年11月07日 发布 分类:行业要闻 点击量:1918
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--访丹东百特仪器有限公司研发部经理范继来先生

 

在刚刚结束的IPB中国国际粉体展上,粉体圈作为唯一的战略合作媒体,应主办方邀请对几家参展单位进行了采访。这些单位涉足领域包括有粉体研磨、粒度检测、物料输送装卸等,他们带着最新的技术和产品,展示着专业领域里的拿手绝活,在粉体工业的调色板上涂抹着属于自己的浓重色彩。


 

丹东百特篇

丹东百特仪器有限公司(以下简称百特)成立于1995年,是中国著名的粒度测试技术研发基地和专业的粒度仪器制造商。此次携公司的图像处理设备和激光粒度仪前来展会,接受粉体圈采访的是公司研发部经理范继来先生。


 

粗细端检测技术升级带来准确性提升

这次范经理在接受采访时重点介绍了有关于粒度检测的技术升级,这项新技术主要用来提升激光粒度仪的准确性。而粒度仪的准确性又要分别从上限端(粗颗粒)和下限端(细颗粒)来考量。范经理介绍在上限端百特结合了光阻法颗粒计数器的技术,“因为粗颗粒的投影面积相对较大,在光束中运动之后会使激光产生较大的衰减,通过这个衰减的量来判断这个粗颗粒的大小,再经过测量统计得到的粒径分布就会更准确”。

 

以往的技术,在粗端测量的时候,因为粗颗粒的波动信号比较大,测试软件的滤波功能往往会把这方面的信号处理掉,这就造成了粗颗粒检测不到的状况。范经理提到,现在恰恰就是利用信号的波动性来判断粗颗粒的大小与含量,这就能够更好的保障粗端测量的准确性。至于下限端的测量,百特采用了一种“倾斜入射光路”,这种设计可以达到全角度散射光测量的效果,从而保证了下限端的测量精度。

 

采访后记

对于百特本次参展的其中两款仪器,动态图像分析仪BT-2800和全自动激光粒度分析仪Bettersize2000,范经理从仪器采用的技术和适用范围进行了介绍,详情请观看采访视频。接受粉体圈采访之余,我们尤其感谢百特能够不断取得进步,由衷的祝福百特能够随着中国粉体工业一同走向更高的高度,更广阔的世界舞台。


(粉体圈 作者:敬之)


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